Carl Zeiss 300VP SEM Cihazı Teknik Özellikleri 

• SEM cihazımız Carl Zeiss 300 VP modeli olup Gemini Optik Teknolojisi ile çalışmaktadır. Bu teknoloji sayesinde manyetik malzemeler gibi zorlu numuneler üzerinde mükemmel şekilde görüntülenme sağlanır.
• NanoVP teknolojisi ışın genişlemesini azaltır ve böylece 150 Pa true lens algılama sayesinde yüksek çözünürlüklü ayrıntılar elde edilir.
• Mikroskobumuzun bütün kontrolleri bilgisayar destekli ve elektroniktir.
• İsteğe bağlı InLens Duo detektörü ile topografik ve kompozisyon bilgisi alınabilmektedir. Bu detektör ayrı SE ve BSE algılanmasını sağlar.  Inlens SE ve ESB detektörleri yüksek çözünürlüklü yüzeyi ve malzeme kontrastlı görüntüleme VP modunda, hatta aynı anda kullanılabilir.
• Yeni nesil ikincil elektron (SE) dedektör ile  % 50'ye kadar daha fazla sinyal ile görüntüler elde edilir.
• Mikroskobumuz yüksek vakum altında çalışmaktadır. Yüksek vakumda 15 ve 30 kV’da 1.2nm, düşük vakumda 1kV’da 2nm çözüm gücüne sahiptir.
• Değişken basınç modunda, yeni C2D ve VPSE dedektörleri ve düşük vakumda çalışmada, % 85 daha fazla kontrasta sahip net görüntüler elde edilir.
• İletken numuneler kaplamaya gerek olmadan incelenebilmektedirler.
• Görüntüler yüksek çözünürlükle dijital olarak çekilmekte; istenildiği takdirde dijital olarak kaydedilmekte
• IR aydınlatmalı CCD kamera bulunmaktadır.
• Görüntü üzerinde en, boy, uzunluk, açı ölçümleri yapılabilmektedir.
• Yalıtkan numuneler kaplama cihazı QUORUM Q150 RES ile altın ile homojen bir şekilde kaplanarak incelenmektedir.