Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

         Malzeme topografisini ve yüzeyin fiziksel özelliklerini atomik boyutta Angstrom(10^-10m) mertebesinden 100 mikrona kadar yüksek çözünürlükte 3 boyutlu görüntülenmesini sağlamaktadır. AFM de görüntü cihaza sonradan yerleştirilen Tip adı verilen osilasyon haraketi yapan bir iğne-yay(cantilever) sisteminin numunenin atomları ile çeşitli etkileşmeleri sonucunda elde edilir. Bu mikroskopta elde edilen görüntü çözünürlüğü optik mikroskoplara göre en az 1000 kat daha fazladır.

Uygulama Alanları:

            İnce ve kalın film kaplamaları, seramikler, kompozitler, camlar, polimerler, metaller ve yarı iletkenler gibi birçok malzemenin yüzey topografisi, yüzey etkileşim özellikleri, elektriksel yük,manyetiklik kabiliyetleri ve nanomekanik özellikleri gibi birçok açıdan inceleme imkanı sağlamaktadır.