Nanosurf Flex Axiom AFM Cihazı

• Cihaz malzemelerin yüzey öxelliklerini X-Y-Z eksenlerinde taramalı uç mikroskobu tekniklerine göre tarama yaparak 2 ve 3 boyutlu olarak görüntüleyebilmektedir. Z de 100µm ile 5mm arasında farklı yüksekliklerde görüntü alabilmektedir.
• Büyük ya da birden fazla numuneler üzerinde ölçüm yerleri 32 mm x 32 mm numune alanını kapsayan geniş bir görüş alanı taranarak görüntü alınabilmektedir. 
• Tekli ve çoklu pirin nanosheets ve alt nanometre hassasiyetle yükseklik analizi görüntüleme elde edilir.
• Cihaz hem atmosfer ortamında hem de sıvıda güvenilir topoğrafik ve meteorolojik görüntüleme elde edebilmektedir.
• Elektrokimyasal (EC-AFM) sistemi için, ölçümü yapabilecek donanım bulunmaktadır. 
• Scanning tunneling microscope (STM) ve Tapping mode (Liquid) modlarını bulundurmaktadır. 

 

Nanosurf Flex Axiom AFM Cihazı Teknik özellikleri

Genel tasarım: Tripod stand-alone tarama kafası, eğilme tabanlı elektromanyetik harekete Skyscanner, üretimden bağımsız piezo-tabanlı Z-tarayıcı  

Önek görüntü: Hava ve sıvı içinde üst ve yan görünüm

Örnek aydınlatma: Beyaz LED'ler (parlaklık% 0-100); Üst görünüm için eksenel aydınlatma

Çalışma modları: Statik kuvvet, yanal kuvvet, dinamik kuvvet, faz kontrast, manyetik kuvvet, elektrostatik kuvvet, Kelvin probe kuvvet, serme, termal tarama, direnç, kuvvet modülasyon, çoklu spektroskopisi modları, litografi ve manipülasyon modları. 

---

Tarama kafası türü:                                                                                   100 μm                                                            10 μm

Örnek boyut                                                                                                sınırsız

Maksimum Petri Kabı Yüksekliği (Sıvı Seviyesi)                                9 mm (6 mm)

Manuel Yaklaşım Aralığı                                                                          30 mm

Otomatik Yaklaşım Aralığı                                                                      1.1 mm

Maksimum Tarama Aralığı                                                                     100 μm                                                                 10 μm 

Maksimum Z-Aralık                                                                                  10 μm                                                                   3 μm  

Z Sürücü  Çözünürlüğü                                                                             0.152 nm                                                           0.046 nm

XY Sürücü  Çözünürlüğü                                                                         1.525 nm                                                            0.152 nm

XY-doğrusallık ortalama hata                                                               < 0.1%

Maksimum tarama mesafeden XY-düzlük                                         typ.5 nm                                                               typ.1 nm

Z-ölçüm gürültü seviyesi (RMS, havadaki statik modu)                 typ.0.3 nm                                                          typ 0.15 nm

Z-measurement noise level (RMS, dynamic mode in air)               typ.0.16 nm                                                        typ 0.06 nm

 

---